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SQuBOK分類 :
執筆者 :
柏原 一雄(㈱デンソークリエイト)
、岡本 晃(農中情報システム㈱)
、鈴木 裕一郎(㈱日立製作所)
、田村 光義(サイバートラスト㈱)
、東久保 理江子(アンリツ㈱)
、保栖 真輝(日本電子㈱)
、細川 宣啓(日本アイ・ビー・エム㈱)
、永田 敦(ソニー㈱)
紹介文 :
ソフトウェア開発における欠陥の情報は,多くの組織で蓄積されている.
混入し得る欠陥を予測し,欠陥の混入・流出を防止するためには,この蓄積された欠陥情報を活用することが不可欠である.
本研究では,欠陥の混入を予測するためには,欠陥が混入するメカニズムを理解し,欠陥を引き起こす要因を検知する必要があるということに着目し,その方法を検討した.
本発表では,欠陥の予測を目的とした,欠陥混入メカニズムのモデリング手法と欠陥データベースの構築・利用手法を提案する.
ソフトウェア開発における欠陥の情報は,多くの組織で蓄積されている.
混入し得る欠陥を予測し,欠陥の混入・流出を防止するためには,この蓄積された欠陥情報を活用することが不可欠である.
本研究では,欠陥の混入を予測するためには,欠陥が混入するメカニズムを理解し,欠陥を引き起こす要因を検知する必要があるということに着目し,その方法を検討した.
本発表では,欠陥の予測を目的とした,欠陥混入メカニズムのモデリング手法と欠陥データベースの構築・利用手法を提案する.