ソフトウェアテスト技法の習得と実務への適用　- 闇雲なテストからの脱却 -

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SQuBOK分類 :
3.9.2 仕様に基づいた技法、 3.9.7 組み合わせの技法

年度 : 2012年分科会 : 第5分科会「ソフトウェアテスト」

主査 : 奥村　有紀子（デバッグ工学研究所）
副主査 : 秋山　浩一（富士ゼロックス）堀田　文明（デバッグ工学研究所）
執筆者 : 佐藤佳延（キヤノンITソリューションズ）、古庄一磨（キヤノンファインテック）、南雲博人（ニコンシステム）、豊福暁久（リンクレア）、青木滋（NTTデータシステム技術）

紹介文 :
同値分割法、境界値分析法、CFD法、デシジョンテーブル、HAYST法、All-Pair法、状態遷移テストといったテスト技法のメリットや学んだことによる気づきが整理されています。これからテスト技法の習得や導入を検討している人に参考になります。

概要 :
ソフトウェア開発に対する市場ニーズは、納期やコストだけではない。市場投入後のソフトウェアの重篤な不具合により、社会的に大きな問題に発展する場合や、その不具合に対する改修費用が莫大な金額になり企業経営に打撃を与える場合があるため、品質についても強く求められている。
しかしソフトウェア開発は、機械や電気または電子回路設計と比較すると開発自由度が高くスピードが求められる側面や、開発者自身でソフトウェアがどのように使用されてどのような振る舞いをするか、ソフトウェアテストで全て把握するのは現実的に困難な状況にあるためソフトウェアテストでの品質の確保は漠然としており難解なものになっている。
本論文ではソフトウェア品質の確保に取り組む足がかりとすべく、ソフトウェアテスト初心者が実践できる基礎的なソフトウェアテスト技法の習得に重点を置き、実際のソフトウェアテスト業務への適用を試みた。