派生開発における影響箇所の把握改善によるテスト範囲の特定方法の提案

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SQuBOK分類 :
3.8.3.4 CFIA （構成要素障害影響分析）【IBM】、 3.9.3.3 データフローテスト、 3.9.4.1 エラー推測テスト

年度 : 2009年分科会 : 第5分科会「ソフトウェアテスト」

主査 : 秋山浩一（富士ゼロックス）
副主査 : 奥村　有紀子（デバッグ工学研究所）、堀田文明（デバッグ工学研究所）
執筆者 : 阿部啓（TIS）、長田倫明（セゾン情報システムズ）、鈴木淳一（矢崎総業）、鈴木昭吾（日立ハイテクソリューションズ）

紹介文 :
派生開発においては、全てのテストを実施する工数がないため、影響度分析を行い、関連する箇所を絞り込んでテストをすることが有効です。
本研究では、派生開発時の影響範囲を可視化し、機能間の関係性及び資源の共有について機能間マトリクスを作成するという方法を取っています。XDDPのTMと組み合わせることで派生開発時のテストの効率化が行えることでしょう。

概要 :
日本情報システム・ユーザー協会（JUAS）の企業IT 動向調査の2009 年度版[1]では、システム開発の58％は保守運用であると予測されている。
ところが、研究員の現場では、システム開発やソフトウェアテストの標準化の取り組みは新規開発が中心であり、派生開発（過去のコードを流用して製品を開発すること）については、体系的な方法論が整備されていなかった。
本研究では、派生開発におけるソフトウェアテストの改善をテーマとして取り組んだ。開発要件による影響度の可視化を狙いとし、そこからテスト範囲を特定する方法を考案し、効果を測定した。