2 件の資料が見つかりました。
ダウンロード数: 442回
執筆者 :
近江 久美子(TIS)
、永田 敦(ソニー)
、阿部 修久(キヤノンITソリューションズ)
、天野 佑太(日立メディコ)
、伊藤 慈朗(東芝デジタルメディアエンジニアリング)
、上田 克則(大和コンピューター)
、朝永 糸子(東京海上日動システムズ)
、森崎 一邦(東芝電波システムエンジニアリング)
紹介文 :
「開発の上流文書の質が良くないと下流のテストがタイヘンになる、だったらテストエンジニアが上流から関わってはどうか」というところから出発した報告です。テストエンジニアの視点は設計者や開発者とは異なることを利用し、テストで発見されるべきバグを要求仕様書の段階で見つける試みです。
設計・開発とテスト担当者が別のチームであるプロジェクトなどには、有効な考え方です。
「開発の上流文書の質が良くないと下流のテストがタイヘンになる、だったらテストエンジニアが上流から関わってはどうか」というところから出発した報告です。テストエンジニアの視点は設計者や開発者とは異なることを利用し、テストで発見されるべきバグを要求仕様書の段階で見つける試みです。
設計・開発とテスト担当者が別のチームであるプロジェクトなどには、有効な考え方です。
ダウンロード数: 357回
紹介文 :
レビュー効率と効果向上に関する新技法の提案論文。欠陥検出率の向上と、コスト効果を改善する方法として、メトリクス測定+仮説立案を利用に言及している。
品質系、特にレビュー技法に対するメトリクス利用の論文は一般に少ないこと、また当該論文にて言及している「間接メトリクス」に関してはプロセスメトリクス・プロダクトメトリクスのいずれでもない新たなメトリクス分野として注目に値する。
レビュー効率と効果向上に関する新技法の提案論文。欠陥検出率の向上と、コスト効果を改善する方法として、メトリクス測定+仮説立案を利用に言及している。
品質系、特にレビュー技法に対するメトリクス利用の論文は一般に少ないこと、また当該論文にて言及している「間接メトリクス」に関してはプロセスメトリクス・プロダクトメトリクスのいずれでもない新たなメトリクス分野として注目に値する。