紹介文 :
派生開発時のテストでは、変更の影響範囲を考慮しテスト観点の抜け漏れを抑えるテスト要求分析が重要です。
本論文ではHAYST法の「ラルフチャート」を派生開発の前後で作成し両者を比較することで「変更の影響範囲を考慮したテスト観点を導出する」というテスト分析手法を研究したものです。