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執筆者 :
櫻田 健人 (ヤマハ発動機株式会社)
、石川 雄基 (アイシン・エィ・ダブリュ株式会社)
、豊田 千弘 (カルソニックカンセイ株式会社)
、坂東 文香 (テックスエンジソリューションズ株式会社)
、吉田 健雄 (テックスエンジソリューションズ株式会社)
、吉田 伸幸 (アンリツエンジニアリング株式会社)
紹介文 :
本論文では、派生開発での回帰テストにおいて、デグレード不具合を効率よく検知するため、テストケースにソフトウェア変更の影響範囲を基にしたスコア付けを行い、テスト実施するテストケースの選定手法を提案している。
具体的には、データフロー図(Data Flow Diagram, DFD)を用いてデータフローを介して繋がる機能数を機能ごとに計測し、その数を基にスコア付けを行い、スコアの高い順から優先的にテストケースを選定する手法である。
この手法により、変更後の機能からの影響を受けやすい機能をスコアとして表すことができる。そして、スコアが高い機能を優先的かつ重点的にテストを行うようにテストケースを選定することで、デグレード不具合を検知しやすくなることが見込まれる。
本論文では、派生開発での回帰テストにおいて、デグレード不具合を効率よく検知するため、テストケースにソフトウェア変更の影響範囲を基にしたスコア付けを行い、テスト実施するテストケースの選定手法を提案している。
具体的には、データフロー図(Data Flow Diagram, DFD)を用いてデータフローを介して繋がる機能数を機能ごとに計測し、その数を基にスコア付けを行い、スコアの高い順から優先的にテストケースを選定する手法である。
この手法により、変更後の機能からの影響を受けやすい機能をスコアとして表すことができる。そして、スコアが高い機能を優先的かつ重点的にテストを行うようにテストケースを選定することで、デグレード不具合を検知しやすくなることが見込まれる。