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執筆者 :
近江 久美子(TIS)
、永田 敦(ソニー)
、阿部 修久(キヤノンITソリューションズ)
、天野 佑太(日立メディコ)
、伊藤 慈朗(東芝デジタルメディアエンジニアリング)
、上田 克則(大和コンピューター)
、朝永 糸子(東京海上日動システムズ)
、森崎 一邦(東芝電波システムエンジニアリング)
紹介文 :
「開発の上流文書の質が良くないと下流のテストがタイヘンになる、だったらテストエンジニアが上流から関わってはどうか」というところから出発した報告です。テストエンジニアの視点は設計者や開発者とは異なることを利用し、テストで発見されるべきバグを要求仕様書の段階で見つける試みです。
設計・開発とテスト担当者が別のチームであるプロジェクトなどには、有効な考え方です。
「開発の上流文書の質が良くないと下流のテストがタイヘンになる、だったらテストエンジニアが上流から関わってはどうか」というところから出発した報告です。テストエンジニアの視点は設計者や開発者とは異なることを利用し、テストで発見されるべきバグを要求仕様書の段階で見つける試みです。
設計・開発とテスト担当者が別のチームであるプロジェクトなどには、有効な考え方です。