メトリクスとシステムライフサイクルプロセスとの相関を踏まえた改善方法

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年度 : 2003年分科会 : 第1分科会「ソフトウェアプロセス評価・改善」

主査 : 菊本　正紀（日本ノーベル）
副主査 : 小笠原　秀人（東芝）、古賀　恵子（日立製作所）、三浦邦彦（矢崎総業）
執筆者 : 川北　竜太郎（インテック）、富本　達明（三菱電機マイコン機器ソフトウエア）、西口　力（オージス総研）、葭谷　努（ＴＩＳ）、和田　任弘（アンリツエンジニアリング）　

紹介文 :
試験フェーズ（ISO/IEC 15288の検証プロセス、妥当性確認プロセス）を中心に、プロセスとメトリクスの相関をモデル化しています。
作成したプロセスとメトリクスの相関図は、プロセスとメトリクスの関連を示すだけでなく、フィードバックの関係も示しているため、同図を用いて、プロセス改善の方法の検討及び導出に利用できるものとなっています。

概要 :
近年、ソフトウェアの品質向上は、プロセスの改善活動に重点を置いている。世の中の活動の傾向としては、ＣＭＭなどの成熟度モデルを理解し、それに対して適合性を図る活動に集中していると感じている。当グループでは、このようなモデルの理解や準拠ではなく、モデルには定義されていない、改善自身に着目したいと考えた。
本研究では、具体的な改善のポイントとなるメトリクスに着目し、試験フェーズにおいて、メトリクス規格の「ISO/IEC 9126」とプロセスの規格の「ISO/IEC 15288」を利用し、メトリクスとプロセスの相関について議論し、整理・分析してまとめた。