組込み製品の品質を高めるための暗黙知の抽出・利用方法

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年度 : 2007年分科会 : 第3分科会「組込みソフトウェアの品質問題とその対応」

主査 : 飯泉　紀子（日立ハイテクノロジーズ）
副主査 : 田所　孝文（山武）
執筆者 : 石原　鉄也（矢崎総業）、清田　明宏（大崎電気工業）、増田　耕弐（日立システムアンドサービス）、杉山　篤志（富士ゼロックス）

紹介文 :
レビューでよくつかわれるチェックリストは絶えずメンテナンスをしていかなければならない。本論文は、効果的なチェックリストを作るために、ベテランエンジニアの暗黙知を導入する方法を提案している。

概要 :
ソフトウェア開発ではソフトウェアが作られていく過程で入り込んでしまう“バグ”の摘出はテスト工程に依存していることが多く、高品質のソフトウェアを開発するためには仕様検討段階のレビューでの摘出が望まれる。
一般的に、効果的なレビューを行うためには、レビュアー、技術者とも高度な専門知識を必要とする。しかし、優秀なレビュアーの論理的な思考、抽象化、概念化、洞察力は暗黙知であるため、レビューの効果が人に依存した状態からなかなか抜け出せない。そこで暗黙知を共有できることを目的に、その抽出と利用方法を提言する。