キーワード検索


 2001年    2002年    2003年
 2004年    2005年    2006年
 2007年    2008年    2009年
 2010年    2011年    2012年
 2013年    2014年    2015年
 2016年    2017年    2018年

1 件の資料が見つかりました。
ダウンロード数: 73回
紹介文 :
派生開発時のテストでは、変更の影響範囲を考慮しテスト観点の抜け漏れを抑えるテスト要求分析が重要です。
本論文ではHAYST法の「ラルフチャート」を派生開発の前後で作成し両者を比較することで「変更の影響範囲を考慮したテスト観点を導出する」というテスト分析手法を研究したものです。
↑